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    應用訊息

    上海伯東客戶某生產激光芯片客戶近日采購干式氦質譜檢漏儀 ASM 340 D 進行封裝激光芯片的泄漏檢測.
    客戶激光芯片在 Box 內進行封裝, 封裝完成后的激光芯片漏率要求小于 5×10-8mbar.l/s, 如果密封性不夠會影響其使用性能和精度, 因此需要進行泄漏檢測.
    氦質譜檢漏儀封裝激光芯片檢漏
    封裝激光芯片檢漏方法

    激光芯片在 Box 內封裝后, 需要對其本身的密封性進行泄漏測試. 由于封裝激光芯片器件體積小, 且無法抽真空或直接充入氦氣, 上海伯東推薦使用氦質譜檢漏儀“背壓法”檢漏, 具體做法如下:
    1. 將被檢封裝激光芯片放入真空保壓罐, 壓力和時間根據漏率大小設定
    氦質譜檢漏儀封裝激光芯片檢漏
    2. 取出封裝激光芯片, 使用空氣或氮氣吹掃表面氦氣
    3. 將封裝激光芯片放入真空測試罐, 測試罐連接氦質譜檢漏儀進氣口
    氦質譜檢漏儀封裝激光芯片檢漏
    4. 啟動氦質譜檢漏儀, 真空模式下, 漏率值設定為 5×10-8mbar.l/s 進行檢漏.

    鑒于客戶信息保密, 若您需要進一步的了解封裝激光芯片檢漏, 請參考以下聯絡方式
    上海伯東: 葉小姐                                  臺灣伯東: 王小姐
    T: +86-21-5046-3511 ext 109             T: +886-3-567-9508 ext 161
    F: +86-21-5046-1490                          F: +886-3-567-0049
    M: +86 1391-883-7267                       M: +886-939-653-958
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